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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
所在地：深圳市
更新時(shí)間：2024-11-12
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過(guò)狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過(guò)單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過(guò)掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | Ophir | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過(guò)狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過(guò)單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過(guò)掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。
掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn) :
取樣尺度可以到微米量級(jí)，遠(yuǎn)小于 CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無(wú)需放大；
采用單點(diǎn)探測(cè)器，適應(yīng)紫外 ~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段；
單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍，一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。
掃描式光束分析儀的缺點(diǎn) :
多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光；
不適合非典型分布的激光，近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。
掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測(cè)量（焦點(diǎn)測(cè)量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
NanoScan 2s Si/3.5/1.8 7µm至~2.3mm
NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其硅探測(cè)器，精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。
光束尺寸7µm至~2.3mm
功率級(jí)范圍為~10nW至~10W
USB 2.0接口
包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件
PH00456
NS2s-SI/3.5/1.8-STD
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫
PH00464
NS2s-Si/3.5/1.8-PRO
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀：硅探測(cè)器，3.5mm孔徑，1.8µm狹縫
產(chǎn)品規(guī)格
產(chǎn)品名稱：NanoScan 2s Si/3.5/1.8
傳感器類型：Silicon Photodetector
光譜范圍：190 to 1100 nm
狹縫尺寸：1.8 µm
孔徑尺寸：3.5 mm
光束尺寸：7 μm to 2.3 mm
掃描頭尺寸：83 mm
功率范圍：10 nW to 10 W
通信：USB 2.0
